INSPEKCIJA I PAKIRANJE DIOD ZA ZAVARIVANJE SERIJE ZW
Metode ispitivanja i pravila pregleda
1. Inspekcija serije po seriju (Grupa A inspekcija)
Svaku seriju proizvoda treba pregledati prema tablici 1, a sve stavke u tablici 1 su nerazorne.
Tablica 1 Inspekcija po seriji
| Skupina | InspekcijaArtikal | Metoda inspekcije | Kriterij | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Izgled | Vizualni pregled (pod normalnim uvjetima osvjetljenja i vida) | Logo je jasan, površinski premaz i oplata su bez ljuštenja i oštećenja. | 1.5 |
| A2a | Električne karakteristike | 4.1 (25 ℃), 4.4.3 (25 ℃) u JB/T 7624—1994 | Obrnuti polaritet:VFM>10 USL IRRM>100 USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1 (25 ℃) u JB/T 7624—1994 | Prigovor na zahtjeve | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25 ℃, 170 ℃) u JB/T 7624—1994 | Prigovor na zahtjeve | ||
| Napomena: USL je najveća granična vrijednost. | ||||
2. Periodični pregled (provjera skupine B i skupine C)
Prema tablici 2., gotovi proizvodi u normalnoj proizvodnji trebaju biti pregledani najmanje jednom serijom skupine B i skupine C svake godine, a stavke pregleda označene s (D) su razorna ispitivanja.Ako početni pregled nije kvalificiran, dodatno uzorkovanje može se ponovno pregledati u skladu s Dodatkom tablice A.2, ali samo jednom.
Tablica 2 Periodični pregled (Skupina B)
| Skupina | InspekcijaArtikal | Metoda inspekcije | Kriterij | Plan uzorkovanja | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Ciklusiranje temperature (D) nakon čega slijedi brtvljenje |
| Mjerenje nakon testa:VFM≤1,1USL IRRM≤2USL ne curenje | 6 | 1 |
| CRRL | Ukratko navedite relevantne atribute svake skupine, VFM i jaRRMvrijednosti prije i poslije testa, te zaključak testa. | ||||
3. Identifikacijski pregled (skupina D pregled)
Kada je proizvod dovršen i pušten u proizvodno ocjenjivanje, uz preglede A, B, C skupine potrebno je napraviti i ispitivanje D skupine prema tablici 3, a stavke pregleda označene s (D) su razorna ispitivanja.Uobičajena proizvodnja gotovih proizvoda mora se testirati najmanje jednom serijom skupine D svake tri godine.
Ako početni pregled ne uspije, dodatno uzorkovanje može se ponovno pregledati prema tablici A.2 u Dodatku, ali samo jednom
Tablica 3 Test identifikacije
| No | Skupina | InspekcijaArtikal | Metoda inspekcije | Kriterij | Plan uzorkovanja | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Ispitivanje opterećenja toplinskim ciklusom | Vremena ciklusa: 5000 | Mjerenje nakon ispitivanja: VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Udar ili vibracija | 100g: držati 6ms, polusinusni valni oblik, dva smjera 3 međusobno okomite osi, 3 puta u svakom smjeru, ukupno 18 puta.20g: 100~2000Hz，2h u svakom smjeru, ukupno 6h. | Mjerenje nakon ispitivanja: VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Ukratko navedite relevantne atributne podatke svake skupine, VFM , IRRMi jaDRMvrijednosti prije i poslije testa, te zaključak testa. | |||||
Označavanje i pakiranje
1. Mark
1.1 Oznaka na proizvodu uključuje
1.1.1 Broj proizvoda
1.1.2 Identifikacijska oznaka terminala
1.1.3 Naziv tvrtke ili zaštitni znak
1.1.4 Identifikacijski kod inspekcijske serije
1.2 Logo na kutiji ili priloženim uputama
1.2.1 Model proizvoda i standardni broj
1.2.2 Naziv i logotip tvrtke
1.2.3 Znakovi otporni na vlagu i kišu
1.3 Paket
Zahtjevi za pakiranje proizvoda trebaju biti u skladu s domaćim propisima ili zahtjevima kupaca
1.4 Dokument o proizvodu
Model proizvoda, broj standarda implementacije, posebni zahtjevi za električnim performansama, izgled itd. trebaju biti navedeni u dokumentu.
Thedioda za zavarivanjeproizveden od strane Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor naširoko se primjenjuje u otpornim zavarivačima, strojevima za zavarivanje srednje i visoke frekvencije do 2000Hz ili više.S ultra-niskim vršnim naponom, ultra-niskim toplinskim otporom, vrhunskom proizvodnom tehnologijom, izvrsnom sposobnošću zamjene i stabilnim performansama za globalne korisnike, dioda za zavarivanje tvrtke Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor jedan je od najpouzdanijih uređaja u Kini. poluvodički proizvodi.